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奈米精度對位定位平台

技術產品

奈米精度對位定位平台客製整合

奈米精度對位定位平台用於需要高解析與高穩定補正的 XY/Theta 或多軸定位製程。豪捷科技可依行程、負載、解析度、重複定位、回授、控制器與驗收方法,協助規劃高精度對位平台與整機設備整合。

  • 依專案需求評估規格,不硬填未確認數值
  • 以可爬取 HTML 呈現規格、應用、選型與 FAQ
  • 整合平台、視覺、治具、控制、上下料與資料需求
  • CTA 皆連至 contact.html 進行技術討論

應用產業與製程

AOI雷射加工半導體光學量測精密組裝

奈米精度對位定位平台適合哪些需求

製程痛點與應用情境

針對標準設備或人工流程難以穩定處理的精密製程,先確認工件、材料、尺寸、節拍、精度與現場條件。

客製設備與整合方式

依需求整合精密平台、視覺定位、治具、吸附、上下料、電控軟體與資料紀錄。

規格與需求確認表

欄位確認重點目前填寫方式
工件 / 材料 / 尺寸確認產品外形、厚度、重量、表面與敏感條件依專案需求評估
精度 / 節拍 / 驗收確認定位、檢測、切割、曝光或測試的驗收方法依專案需求評估
平台 / 治具 / 吸附確認平台架構、固定方式、真空需求、治具與安裝面依專案需求評估
視覺 / 控制 / 資料確認相機、光源、控制器、軟體、資料輸出與追溯需求依專案需求評估
環境 / 安全 / 保密確認潔淨、氣源、粉塵、雷射/光源安全、NDA 與保密邊界需客戶補資料

需要進一步評估 奈米精度對位定位平台?

提供製程、材料、尺寸、精度、節拍、現場限制與驗收條件,豪捷可協助進行初步技術討論。

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內部連結與相關實績

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奈米精度對位定位平台案例

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常見問題

需區分解析度、重複定位、定位精度與驗收方式。

可依製程需求評估軸數與控制架構。

行程、負載、精度、軸數、環境、節拍與回授條件。

可與 AOI、視覺定位、雷射或製程設備整合。

可參考奈米精度對位定位平台實績。

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若您已有樣品、圖面、規格或製程條件,歡迎提供資料讓豪捷評估可行方案。

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