AOI 自動光學檢測設備
解決方案
AOI 自動光學檢測設備客製整合
豪捷科技依工件與檢測站需求，評估相機、鏡頭、光源、影像判定、精密定位平台、上下料與資料紀錄的整合。從半導體、PCB/FPC、光電到精密零件，先確認樣品上的缺陷是否可辨識，再討論設備配置與驗收條件。
- 工件固定、拍攝姿態與平台移動條件
- 良不良品判定、樣品差異與檢查面
- 上下料、NG 處理與檢測資料接口
什麼情況需要討論客製整合？
當檢查面、工件固定方式或前後站搬送需要配合製程時，可先盤點視覺、平台、治具與控制的分工。是否採用特定光學配置、吸附方式或資料追溯功能，仍依樣品及現場接口評估，不視為每台設備的固定配置。
若缺陷定義、良不良品樣本或允收界線尚未一致，先對齊判定條件；不能僅用相機解析度推定整機的檢出能力或節拍。
AOI 整合前先確認哪些條件？
可先提供現有樣品或缺陷照片，不必一次備齊所有資料。以下欄位用來釐清討論範圍，不是設備性能承諾。
| 需求項目 | 可提供的資料 | 用來確認什麼 |
|---|---|---|
| 工件與檢查面 | 外形、尺寸、表面材質與需檢查的位置 | 拍攝範圍、姿態及治具固定方式 |
| 缺陷與允收界線 | 缺陷照片、良不良品範例與判定標準 | 影像是否能辨識差異，以及驗收如何判定 |
| 樣品差異 | 不同批次、顏色、反光或表面狀態的樣品 | 光源與判定方式需涵蓋的變化範圍 |
| 搬送與節拍 | 前後站方式、工件到位姿態與目標節拍 | 上下料、定位、拍攝與判定的時間分配 |
| NG 與資料接口 | 不良品處理方式、條碼與需保存的檢測資料 | 設備與人員、產線系統之間的交付邊界 |
| 現場與保密 | 安裝空間、環境限制及可提供的樣品資訊 | 整合限制、測試安排及資料分享範圍 |
常見問題
瑕疵、尺寸、位置、表面、外觀與製程特徵可依樣品評估。
建議提供樣品、缺陷圖片、判定標準、節拍、尺寸與良不良品數量。
可依產線需求整合搬送、治具、條碼與資料紀錄。
視判定方式而定，需先確認缺陷穩定性與樣本數。
可依製程條件、樣品與保密需求評估。